Prüfung von Elektronik-(Vakuum)Verguss

Sensor zur zerstörungsfreien Prüfung einer vergossenen Baugruppe und exemplarische Ergebnisauswertung eines Demobauteils: 1) fehlerfrei, 2) mit Luftblaseneinschluss und 3) automatisierter Defektvisualisierung in rot (Bild: TENTA VISION GmbH, Mitte RAMPF Production Systems)

18.03.2024 Prüfung von Elektronik-(Vakuum)Verguss

Die Inspektionssysteme von Tenta Vision lassen sich für die Prüfung unterschiedlicher Produkte – unabhängig von deren Größe und Geometrie – einsetzen. Bei Verwendung als Laborsystem können während des Produktmanagements eigene Parameterstudien oder produktionsbegleitende Prüfungen in Stichprobengröße durchgeführt werden und sich z.B. Einrichtungsphasen hin zum stabilen Verguss- oder Verklebprozess um bis zu 34% verringern lassen.

Die Prozesskette von der Einzelteilprüfung im Labor bis hin zur Diskussion des Prüfergebnisses und anschließender Entscheidungsfindung wird innerhalb von wenigen Minuten ermöglicht. Im Falle des Elektronik-(Vakuum)Vergusses werden z.B. in 1,2 s Luftblaseneinschlüsse innerhalb der Vergussmasse gefunden, die zu Hotspots führen und die Elektronik zerstören können.

Eine weitere Problematik beim Elektronik-(Vakuum)Verguss ist die verminderte Adhäsion zwischen Platine bzw. Elektronikkomponenten und Vergussmasse. Beides führt zur beschleunigten Alterung und zu Spannungsspitzen, die die Komponenten (z.B. Motorsteuergeräte) durch Kontamination zerstören. Andere zerstörungsfreie Prüfverfahren sind oftmals nicht geeignet, da die Prüfung entweder zu lange dauert oder die Ergebnisqualität durch Überblendung mangelhaft ist.

Lösungspartner

TENTA VISION GmbH

Branchen

Elektronik

Zielgruppen

Konstruktion & Entwicklung, Qualitätssicherung